加州山景城2020年2月28日 /美通社/ -- （Synopsys, Inc.，納斯達克股票代碼：SNPS）近日宣布，三星成功在其汽車集成電路上部署了新思科技TestMAX? XLBIST解決方案(an)，提供關鍵故(gu)障的(de)動態系統內(nei)測(ce)試，以(yi)滿足嚴苛的(de)功能(neng)安(an)全(quan)要求。汽(qi)車(che)(che)技術的(de)加速發展(zhan)意味著需要更多的(de)汽(qi)車(che)(che)芯(xin)片(pian)來滿足自(zi)動駕(jia)駛(shi)和高級駕(jia)駛(shi)輔助系統(ADAS)的(de)更高汽(qi)車(che)(che)安(an)全(quan)完整性等級(ASIL)要求。IC Insights的(de)一項研究顯示，據(ju)預測(ce)，未來數年，汽(qi)車(che)(che)集成電路(lu)需求的(de)增長速度(du)將超過所有(you)其他(ta)終端用(yong)戶應用(yong)。新(xin)思科技汽(qi)車(che)(che)設計解決方案(an)讓開發者能(neng)夠提供業界領先的(de)全(quan)面的(de)功能(neng)來實現功能(neng)安(an)全(quan)機制(zhi)，從而達到他(ta)們的(de)目(mu)標ASIL。
使用(yong)新(xin)思(si)科(ke)技TestMAX XLBIST解決方(fang)案(an)(an)，三星得(de)以高效(xiao)實現(xian)動態(tai)系統(tong)內測(ce)試(shi)，在車輛運行關鍵階段（包括通電(dian)、駕駛(shi)模式和斷電(dian)）定期(qi)執行測(ce)試(shi)。作為業界首個容許不確定數字狀(zhuang)態(tai)同時快(kuai)速(su)實現(xian)高故(gu)障覆蓋率的(de)自測(ce)試(shi)解決方(fang)案(an)(an)，新(xin)思(si)科(ke)技TestMAX XLBIST使開發(fa)者(zhe)能(neng)夠最小化(hua)設計(ji)實現(xian)的(de)周轉時間。新(xin)思(si)科(ke)技XLBIST解決方(fang)案(an)(an)，包括其他(ta)TestMAX產品(pin)，是(shi)三星RTL-to-GDSII設計(ji)汽車參考流(liu)程(cheng)非常重要的(de)一(yi)部分(fen)。
三星印度研究院副總裁S. Balajee表示：“三星的目(mu)標是為客(ke)戶提供(gong)創(chuang)造(zao)性解決方(fang)案，滿足其高要求(qiu)汽車設(she)計實(shi)(shi)現的需求(qiu)。作為與(yu)新(xin)思科技合作打(da)造(zao)三星世界級汽車參(can)考流程的一部分，新(xin)思科技TestMAX XLBIST發(fa)揮著(zhu)關鍵作用，幫助實(shi)(shi)現客(ke)戶的測試覆蓋(gai)和測試時間(jian)功能安全目(mu)標，同時最大限(xian)度地減(jian)少設(she)計影響。”
新(xin)思(si)(si)科(ke)技(ji)(ji)TestMAX XLBIST解(jie)決方(fang)案(an)提(ti)(ti)供非常高的(de)(de)系(xi)統內測試(shi)(shi)(shi)故障覆蓋率(lv)，同時輕松滿(man)足(zu)最大允許測試(shi)(shi)(shi)時間(jian)。XLBIST解(jie)決方(fang)案(an)可(ke)避免之前系(xi)統內測試(shi)(shi)(shi)技(ji)(ji)術常見的(de)(de)迭代設(she)計修改、顯著的(de)(de)硅面(mian)積增加(jia)以(yi)(yi)及更長的(de)(de)項目時間(jian)表等(deng)問題(ti)。新(xin)思(si)(si)科(ke)技(ji)(ji)TestMAX XLBIST與TestMAX Access的(de)(de)結合，可(ke)通過嵌入(ru)式控制器實現低延遲(chi)上電(dian)自(zi)測試(shi)(shi)(shi)(POST)，也可(ke)以(yi)(yi)通過CPU接口實現可(ke)配(pei)置系(xi)統內測試(shi)(shi)(shi)。XLBIST解(jie)決方(fang)案(an)利用其(qi)他新(xin)思(si)(si)科(ke)技(ji)(ji)TestMAX產品(pin)組(zu)合，提(ti)(ti)供基于RTL的(de)(de)可(ke)測試(shi)(shi)(shi)性(xing)分析以(yi)(yi)盡(jin)早找到測試(shi)(shi)(shi)問題(ti)；物理感知測試(shi)(shi)(shi)點插(cha)入(ru)以(yi)(yi)提(ti)(ti)高故障覆蓋率(lv)；以(yi)(yi)及功耗(hao)感知測試(shi)(shi)(shi)向量生成(cheng)以(yi)(yi)滿(man)足(zu)系(xi)統級功耗(hao)目標。新(xin)思(si)(si)科(ke)技(ji)(ji)TestMAX產品(pin)系(xi)列支(zhi)持全(quan)面(mian)的(de)(de)RTL-to-GDSII可(ke)測試(shi)(shi)(shi)性(xing)設(she)計實現流程（完全(quan)整合到新(xin)思(si)(si)科(ke)技(ji)(ji)Fusion平臺(tai)），并提(ti)(ti)供業界(jie)領(ling)先的(de)(de)全(quan)面(mian)的(de)(de)測試(shi)(shi)(shi)和DFT能力。
新思科技芯片設(she)計事業部測試(shi)自動化副(fu)總裁Amit Sanghani表示：“TestMAX XLBIST解(jie)決方案(an)是(shi)我們為(wei)客戶(hu)提供的數項測試(shi)創新之一，可(ke)滿足其對汽車和其他任務關(guan)鍵型(xing)設(she)計的質量(liang)和可(ke)靠性需求。與(yu)三星等領先公司密切合作(zuo)可(ke)加快我們提供業界領先解(jie)決方案(an)的能(neng)力，滿足客戶(hu)對于(yu)結(jie)果質量(liang)、上市時間和安全性的目標。”
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新思科技簡介
新(xin)(xin)(xin)思科(ke)(ke)技(ji)(ji)（Synopsys, Inc. , 納斯(si)達克股票代碼：SNPS）是(shi)眾多(duo)創(chuang)新(xin)(xin)(xin)型公司(si)的(de)(de)Silicon to Software?（“芯片(pian)(pian)到軟(ruan)件(jian)”）合(he)作(zuo)伙伴，這些(xie)公司(si)致力(li)于開發(fa)我(wo)們日(ri)常所依(yi)賴的(de)(de)電子(zi)產品和(he)軟(ruan)件(jian)應用(yong)。作(zuo)為全(quan)球(qiu)第15大軟(ruan)件(jian)公司(si)，新(xin)(xin)(xin)思科(ke)(ke)技(ji)(ji)長期(qi)以來一直是(shi)電子(zi)設計自(zi)動(dong)化(EDA)和(he)半導體IP領域的(de)(de)全(quan)球(qiu)領導者，并且在軟(ruan)件(jian)安全(quan)和(he)質(zhi)量(liang)解決(jue)方案方面也發(fa)揮著越(yue)來越(yue)大的(de)(de)領導作(zuo)用(yong)。無(wu)論(lun)您(nin)是(shi)創(chuang)建高級半導體的(de)(de)片(pian)(pian)上(shang)系統(SoC)設計人員(yuan)，還是(shi)編(bian)寫需要最高安全(quan)性(xing)和(he)質(zhi)量(liang)的(de)(de)應用(yong)程序(xu)的(de)(de)軟(ruan)件(jian)開發(fa)人員(yuan)，新(xin)(xin)(xin)思科(ke)(ke)技(ji)(ji)都(dou)能(neng)夠提供(gong)您(nin)所需要的(de)(de)解決(jue)方案，幫助(zhu)您(nin)推出創(chuang)新(xin)(xin)(xin)性(xing)的(de)(de)、高質(zhi)量(liang)的(de)(de)、安全(quan)的(de)(de)產品。有關更多(duo)信息，請訪問(wen) 。
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